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      8英寸手动探针台的使用方式

      更新时间:2022-09-19      点击次数:3591
         8英寸手动探针台是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
        
        使用方式:
        1、将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
        2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
        3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
        4、显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品x-y,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。
        5、待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,最后则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。
        6、确保针尖和被测点接触良好后,则可以通过连接的测试设备开始测试。
        
        8英寸手动探针台用途:
        以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能(如电流、电压、阻抗等)或工作状态,研发人员一般会采用万用电表的表笔去点测。随着电子技术的不断发展,对于精密微小(纳米级)的微电子器件(如IC、wafer、Chip、LCDArray、CMOSCameraModule、Pitch微小的Connector),万用表点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生,利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来,便于其电性测试设备(不属于本机器)对此测试、分析。
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